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高頻LCR測試儀原理
高頻LCR測試儀原理
　　Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當DUT(Device Under Test)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓（DUT的Low電位是0），Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。
　　高頻LCR測試儀HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc（下標c代表current, 下標p代表Potentail)，Guard（接地)的配置可導致測試的誤差的差異。
　　高頻LCR測試儀提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量（關鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable*小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容（對地電容不影響測試結(jié)果），但是會減少信號線的互容。
　　Guard與Cable的對地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影響測試結(jié)果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。
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